发布时间：2025-05-16
当地时间5月13日至15日，由国际信息显示学会（SID）主办的“Display Week 2025”会议及展览在美国圣何塞会议中心举行。作为显示领域的专业盛会，此次展会汇聚了全球行业内的顶尖企业与专家学者，共同探讨显示领域的最新发展趋势与前沿技术。
会议期间，远方光电科学研究所应邀作题为《Research on the Measurement Method of Halo Effect in HDR LCD Displays》的技术报告。报告阐述了HDR LCD显示器中Halo Effect测量方法的研究成果，并与现场专家进行了深入交流与探讨，分享了宝贵的经验与见解，受到同行专家的高度肯定。与此同时，远方光电科学研究所副所长宋立博士当选SID显示测量技术委员会委员。
EVERFINE远方作为国内专业显示测量设备解决方案供应商，此次携多款前沿创新测量产品及解决方案参加了会议同期展会。重点聚焦于车载显示、Mini/Micro LED、OLED 、AR/VR等显示技术领域，旨在为行业提供高精度、多样化的测量解决方案，同频行业发展。
在展会上，EVERFINE远方推出的DCA系列色彩分析仪，可为产线及实验室提供光色参数的高速精准测量，助力客户实现高效品质把控，提升产品竞争力。
此外，DMS系列显示设备光学特性测量系统同样备受关注。该系列产品具有广泛的适用性，可覆盖从0.1寸Micro-LED/OLED显示到超130寸超大显示屏的测试范围，能够全面评价显示器的亮度、色度、均匀性、视角、响应时间、环境光等光学性能，为客户提供重要技术支持和科学参考依据，提升产品竞争力。
EVERFINE远方始终秉持精准创新的发展理念，致力于显示检测设备的自主研发与技术突破，积极推动国产化替代进程。此次参展Display Week 2025，不仅是公司展示的重要平台，更是与全球行业同仁交流合作的难得机会。
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