典型应用场景
SICA-2000光谱图像测色分析仪采用远方高光谱测色专利技术，采用CIE D/8测量几何，可快速获得混色、形状不规则以及小尺寸等材料的光谱图像，并对图像各区域的颜色和光谱进行分析，并可对“无法测量的材料”实现数字化高精度测量，非常适用于纺织品、纺织饰物（纽扣、按钮、拉链等）、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行业。
主要特点
1、符合CIE标准D/8测量几何要求，同时具备SCI和SCE测量条件。
2、采用高性能光源，长期稳定性好，光源寿命更长。
3、多方位监控以及补偿设计，保证测试结果的重复性更高、稳定性更好。
4、采用远方高光谱引擎，图像分辨率高，空间测量分辨率更高。
5、专利的软硬件系统设计提供了极高的光谱测试的准确度以及解析力，保证测试的准确性。
主要技术指标
| 型 号 | SICA-2000 |
| 测量几何 | d/8(漫射照明，8°方向接收) SCI(包含镜面反射光)/SCE(不包含镜面反射光)可选 |
| 波长范围 | 400nm~700nm |
| 波长导出间隔 | 10nm |
| 反射率范围 | 0-200% |
| 重复性 | 标准偏差ΔE*ab 0.03以内 |
| 器间差 | ΔE*ab<0.15(以主机测量BCRA Series l 12色板的平均值) |
| 接 口 | LAN/USB/WIFI/RS-232(预留) |
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