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再获行业金奖,远方显示测量亮相 ICDT2026

远方光电发布时间:2026-04-04

    3月31日-4月3日,2026国际显示技术大会(ICDT 2026)在重庆举行,大会汇聚全球显示领域专家学者与产业同仁,聚焦行业前沿技术进展,推动研究创新与产业升级。0aea8281-a338-4a0a-8f83-822459b1b804.jpg

    远方显示测量携多款核心测量设备及系统解决方案参展,覆盖 Mini/Micro-LED、AR/VR 近眼显示、车载显示、OLED 显示及显示材料等关键方向,与现场专家、客户开展技术交流。
    在成果展示区域,远方全新升级的DCA系列色彩分析仪凭借快速、准确的颜色测量能力及极低亮度的测试稳定性,成为显示专家们特别瞩目的焦点。该设备能够全面满足LCD、OLED及Mini/Micro LED等显示器的不同测试需求,实现同类进口产品的“无感替代”。d9a8b7c4-8d21-49b7-adda-9f78239880b3.jpg

    在Micro-LED检测方面,CXC系列显微成像彩色亮度计配专用显微镜头,可实现Micro LED芯片或极小组件的高分辨率成像,为Micro-LED检测提供高效、精准的解决方案。企业微信截图_17752849726518.png

    大会同期举行SID 中国区显示行业奖(CDIA)评选。该奖项由专业专家委员会评审,旨在表彰具有创新性、先进性与行业价值的技术与产品。远方HSF-200 LED高灵敏快速电光性能分析系统凭借多项自主创新技术,在参评仪器设备中脱颖而出,荣获2026年度金奖。该系统融合特殊采样积分球、微纳高速电源、高灵敏探测单元等核心设计,可采集测量10⁻⁵mW 极弱辐射信号,实现Micro-LED 芯片级多维度参数的精准测量。e192e168-99d4-4021-976d-f086155cf181.jpg

    展会期间,远方光电科学研究院还受邀出席并在显示测量分论坛做口头报告,主题:《Characterization and Measurement Methods for Color Gamut of Displays Under Ambient Light》。分享了远方在显示设备复杂环境下的色彩质量测量领域的解决方案与研究成果,并与业内专家深入交流,共同探讨显示测量技术在新兴应用场景下的发展趋势。5e36ac8f-63aa-405f-844c-a44799c36f34.jpg

    远方深耕显示测量领域多年,未来将继续依托自主知识产权的测量技术与高端设备,以扎实的科研基础,助力显示行业高质量发展。bd9b0980-cc6c-42cb-a938-56a57b114bcc.jpg

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